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「大理石平臺(tái)」如何檢測(cè)大理石平臺(tái)/平板表面光潔度?

時(shí)間: 來源: 未知

大理石平板飾面的物理標(biāo)準(zhǔn)是標(biāo)準(zhǔn)單線模型和標(biāo)準(zhǔn)多線模型,這兩種模型都由1到14之間的標(biāo)準(zhǔn)模板組成。由于標(biāo)準(zhǔn)模板的校準(zhǔn)精度較高(相對(duì)誤差為2-3%),目前沒有合適的儀器可供識(shí)別...

文章標(biāo)簽:大理石平板  大理石檢測(cè)平板  

大理石平板飾面的物理標(biāo)準(zhǔn)是標(biāo)準(zhǔn)單線模型和標(biāo)準(zhǔn)多線模型,這兩種模型都由1到14之間的標(biāo)準(zhǔn)模板組成。由于標(biāo)準(zhǔn)模板的校準(zhǔn)精度較高(相對(duì)誤差為2-3%),目前沒有合適的儀器可供識(shí)別,只能通過比對(duì)法進(jìn)行驗(yàn)證。可使用雙管顯微鏡(9級(jí)以下測(cè)試)、干涉顯微鏡(10級(jí)或更高級(jí)別認(rèn)證)和電動(dòng)輪廓儀(3-12級(jí)校準(zhǔn))驗(yàn)證各種精加工工藝模板。
大理石平臺(tái)
  用較簡單的方法,可以在平砂上對(duì)大理石進(jìn)行檢測(cè),且砂速快,砂量充足。使用后,仍然很容易使用相同類型的砂。拋光后,光潔度明顯提高。 光切割顯微鏡通過光切割來測(cè)量零件表面的微觀不均勻度。最高表面粗糙度可確定為0.2,也可使用表面劃痕、劃線或某些缺陷的深度進(jìn)行測(cè)量。光切割法的特點(diǎn)是不破壞表面。它是一種間接測(cè)量方法。也就是說,折痕的不勻度可以通過計(jì)算來確定。當(dāng)然,計(jì)算都是由計(jì)算機(jī)完成的。 光切顯微鏡是一種測(cè)量大理石表面粗糙度的儀器。它不僅能使大理石平板具有高質(zhì)量和高精度,而且能使大理石平臺(tái)的表面高。以達(dá)到客戶滿意的效果。 大理石平板平臺(tái)是修量塊不可缺少的手工磨具。一般采用灰口球墨大理石材料。硬度中等,HB180左右。表面上沒有質(zhì)量問題。不允許有毛孔和沙眼。為保證修補(bǔ)后的塊體平整度符合要求,大理石平臺(tái)應(yīng)定期進(jìn)行新舊修邊;同時(shí)及時(shí)正確壓砂,保證其良好的切削力和精度。 由于壓砂對(duì)大理石平臺(tái)的作用直接影響量塊的平面精度,要取得良好的大理石平壓砂效果,必須注意以下幾點(diǎn): 一。砂壓室、大理石檢驗(yàn)臺(tái)及輔助材料應(yīng)清洗干凈; 2.大理石檢查臺(tái)在不壓入砂中時(shí),可增加平板的重量; 第三,磨削速度不宜過快,以免引起大理石平臺(tái)受熱而引起檢查平臺(tái)變形。 四。打磨時(shí),應(yīng)關(guān)閉大理石檢查臺(tái),每打磨兩塊板應(yīng)具有相同的打磨次數(shù);

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